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Wafer Charging Monitors, Inc. |
DamageMap は局所なチャージング問題を見つけ出します。
ChargeMap® を改良して作られた DamageMap は、CHARM®-2 の
結果をゲート酸化膜に流れる電流密度 (チャージング ダメージの真の原因) 1 枚のウェーハ マップ上に要約しています。
DamageMap パターンは、製品歩留りウェーハマップと直接比較して、チ
ャージングダメージの原因となる装置を突き止めることが可能です。これは他のチャージングモニタ
には備わっていない機能です。
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