WCM   Wafer Charging Monitors, Inc.

よく寄せられる質問
(Advanced FAQ)


イオン注入時のウェーハチャージング

1.Q. どのような種類のイオン注入が最も ウェーハ チャージングで問題を起こしやすいですか ?
A. 中間電流注入と同じくソース/ドレイン接合 の形成に使用されている高電流注入です。

2.Q. イオン注入の最中に、フラッドガン やエレクトロンシャワーは、ウェーハ チャージングを除去しますか ?
A. これらは、ウェーハチャージングを減少さ せるのに極めて効果がありますが、装置のセットアップによっては、まだ問題がある 場合もあります。

3.Q. ソース/ドレインへのイオン注入に「安全」 なビーム電流はどれ位ですか ?
A. 注入条件が最適化されている場合、最新のイオン注入装置だと、 注入装置の定格出力で操作可能です。

4.Q. 定格出力でスループッ トを最大にし、ウェーハへのチャージング ダメージを引起こさないよう に 高電流イオン注入装置を使用することはできますか ?
A. できます。ただし、注入パラメータとチャ ージ コントロールシステムの設定を最適化する必要があります。

5.Q. CHARM®-2 ウェーハ を使用してスループットを最大化するために、注入およびチャージコントロールシス テムの設定を最適化することはできますか ?
A. できます、これは、簡単な応用です。詳 細情報に関しては、WCM 社までご連絡ください。

6.Q. レジストマスクの極性は、 イオン注入の最中にウェーハ チャージングに影響を及ぼしますか ?
A. はい、かなり影響し ます。います。以下の文献をご参照ください。


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